在整个LED产业链中，从芯片一直到封装、成品，均需要对产品的各项光电指标进行测试。而大部分LED厂商会发现，经过测试以后，LED产品的寿命会受到一定影响，甚至有的在测试过程中就已经直接报废。这是为什么?当使用微小电流进行LED测试时，电流越小，等待LED点亮的时间就越长，测试效率非常低下。这又是为什么?国内大部分的厂商都认为这是LED产品本身的特性所决定的，非人力所能改变，其实不然。目前，在欧美、日本、台湾等LED产业相对发达的地区，各大LED厂商已经开始选用LED测试专用电源供应器来应对这一问题。ITECH艾德克斯也专门推出了IT6200双范围可编程直流电源系列，搭配LED测试系统进行测试，可有效减少LED产品在测试过程中的寿命折损，同时提高测试效率，使产能得以{zd0}化。
引言
LED是英文Light Emitting Diode(发光二极管)的缩写，它的基本结构是一块电致发光的半导体材料，核心部分是由p型半导体和n型半导体组成的晶片，这种利用注入式电进行发光的二极管叫发光二极管，通称LED。LED产品可谓是五花八门。上游的芯片是LED的技术核心，它的光电性能、体积厚度都决定了封装出灯珠的品质和应用领域;LED light bar、LED背光源以及下游的LED手机、电脑、电视机显示屏和LED灯具等成品，所有这些LED产品都无一不需要进行多种光电测试。